Microscopia Electrónica
La Microscopia Electrónica de Barrido es una de las técnicas más versátiles en el estudio y análisis de las características microestructurales de objetos sólidos.
A través del
Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) se pueden observar y caracterizar
superficialmente, materiales de distinta naturaleza tanto orgánicos como
inorgánicos, suministrando información morfológica de los mismos.
El principio físico del
MEB está basado en la generación de distintos tipos de señales electrónicas,
generadas al hacer incidir un haz de electrones sobre la muestra y así obtener
información de las características superficiales de la misma.
La principal ventaja de
esta técnica es la resolución que alcanza en relación a la que se observa en la
microscopia óptica.
Igualmente, aporta
mayor información acerca de la estructura y composición de la muestra en
estudio.
Otra ventaja es que es
una técnica no destructiva, lo cual permite utilizarla en situaciones en la
que evidencia debe ser preservada o cuando a la misma no se le puede
practicar otro estudio.
La aplicación de la Microscopia Electrónica
de Barrido, dentro de las áreas de la Criminalística y de las Ciencias Forenses, se ha
convertido en los últimos años, en una práctica de uso casi rutinario para el
análisis de evidencias, proporcionando no solo resultados oportunos y
expeditos, sino también unificados y auditables.
