La
Microscopia Electrónica de Barrido es una de las técnicas más versátiles en el
estudio y análisis de las características microestructurales de objetos
sólidos.
A través
del Microscopio Electrónico de Barrido (MEB) se pueden observar y caracterizar
superficialmente, materiales de distinta naturaleza tanto orgánicos como
inorgánicos, suministrando información morfológica de los mismos.
El
principio físico del MEB está basado en la generación de distintos tipos de
señales electrónicas, generadas al hacer incidir un haz de electrones sobre la
muestra y así obtener información de las características superficiales de la
misma.
La
principal ventaja de esta técnica es la resolución que alcanza en relación a la
que se observa en la microscopia óptica.
Igualmente,
aporta mayor información acerca de la estructura y composición de la muestra en
estudio.
Otra
ventaja es que es una técnica no destructiva, lo cual permite utilizarla en
situaciones en la que evidencia debe ser preservada o cuando a la misma no
se le puede practicar otro estudio.
La
aplicación de la Microscopia Electrónica de Barrido, dentro de las áreas de la
Criminalística y de las Ciencias Forenses, se ha convertido en los últimos
años, en una práctica de uso casi rutinario para el análisis de evidencias,
proporcionando no solo resultados oportunos y expeditos, sino también
unificados y auditables.
